EV系列 二次元影像测量仪(电脑测量投影仪)
EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率,超低变形式,远心光学设计的变焦镜头,配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP CCD采用色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰细致地显现,轮廓层次分明,精确无误地放大20-150倍作精密测量。 EV系列光学影像测量仪以高精度的大理石作机身的支架,配上高精度工作台,X/Y/Z轴的量测精度高达(3+L/100)μm。 EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发,功能强大,使用简单的全功能测量软件,测量结果可以图挡DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTOCAD,MASTERCAM等等,方便用户使用于抄数应用,相反地,用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内,作直观测量比较。 EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发,使用简单的SPC统计分析软件,使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析,从而轻易地找出流程中的误差趋势,以及工序中存在的问题所有测量结果均可输出至通用的办公软件,如EXCEL,WORD等格式,方便用户保存,编制质量检查报告,或作进一步的处理。
Renishaw高精度接触式测头可选配件 EV系列光学影像测量仪均可选配英国Renishaw的高精度接触式测头,作2D/3D复合测量,使EV系列光学影像测量仪变成一台具三座标测量功能的简单三座标测量机. 本公司的测量软件提供多种三座标测量功能,包括Z轴高度、圆球、斜面、圆柱、圆锥等等。 使用测头的三维测量可与两维的影像测量混合使用,采用相同的座标系统,使影像的两维平面测量与三维的立体测量完美、轻松的结合。
型号 |
EV-2515 |
EV-3020 |
EV-4030 |
(X/Y/Z)量测行程 |
250×150×150mm |
300×200×200mm |
400×300×250mm |
外形尺寸(长宽高) |
100×60×140cm |
120×72×160cm |
120×72×160cm |
机身重量 |
170kg |
280kg |
410kg |
重复性 |
2μm |
机台承重量 |
30kg |
操作方式 |
手动 |
量测分辨率 |
0.001mm |
X/Y/Z轴测量精度 |
(3+L/100)μm |
光源系统 |
上,下可调光源 |
平台结构 |
00级花岗石机台及立柱 |
精密探头(选配) |
英国RENISHAW精密探头配φ3与φ2探针 |
镜头 |
EV远心光学设计镜头(Telecetriclens) |
放大倍率 |
光学放大倍率0.65-4.5×,影像放大倍率20×-150× |
标准电脑配置 |
C4/2.4G/256M内存/40G硬盘17"寸液晶显示器 |
影像系统 |
EV高解放析CCD影像头(1/2"CCD Sensor)及支专用DSP | |